數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)
而的,用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的
用儀器。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等分組成,測
量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到
計算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
四探針軟件測試系統(tǒng)是個運(yùn)行在計算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序,通過此測試程序輔助使用戶簡便地行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀行測量并采集測試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析,然后把測試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析
數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)
而的,用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的
用儀器。儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、計算機(jī)等分組成,測
量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到
計算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。