BZ-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導(dǎo)體探測器為探測單元，再加上我公司門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能，保證了整臺(tái)儀器的分辨率及通用適應(yīng)性。何需要多元素同時(shí)分析的地方，正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強(qiáng)，分辨率，適用于各行業(yè)對不同元素行無損檢測。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al（13號(hào)元素）到U（92號(hào)元素）。無損分析迅速，制樣，測試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測度從PPM別到千分之別。

強(qiáng)勢能

1. 基本參數(shù)法對從鋁（13號(hào)元素）至鈾（92號(hào)元素）定性分析測量。

2．包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。

3．樣品室清成像定位系統(tǒng)，方便微小樣品定位測量。

4．電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合，維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。

5. 內(nèi)動(dòng)力學(xué)風(fēng)道，快速排出多余熱量。

6．雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。

7．雙箱體結(jié)構(gòu)，抗干擾能力強(qiáng)且方便硬件升。

8．儀器作方法意開發(fā)。

9. 定量分析：包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。

10.定性分析：包括Kl譜線標(biāo)記法，譜圖法，光標(biāo)自動(dòng)尋峰等。

11.測試報(bào)表根據(jù)客戶要求立。

12.溫度系數(shù)：溫度變化1度，電壓變化不過0.01%
13.穩(wěn)定性：經(jīng)過半個(gè)小時(shí)預(yù)熱后，每8小時(shí)變化不過0.05%
14.準(zhǔn)直器：使用殊的濾波片自動(dòng)更換，提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器，提降噪比。

整機(jī)規(guī)格

1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm

2. 可測試樣品大?。宏P(guān)倉測量：220mm×200mm×150mm

                   開倉測量：無限大

3. 儀器重量：50公斤

4．作環(huán)境溫度：0——35℃

5. 作環(huán)境相對濕度：≤80%

6. 元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）

7. 含量分析范圍：1PPM——99.999%

8．測量時(shí)間:10——180秒可調(diào)

9. 激發(fā)源：低率X射線管

10．壓電源：美Spellman原裝口壓電源

11．探測器：美Amptek原裝口電制冷Si-Pin半導(dǎo)體探測器

12. 儀器分辨率：⁵⁵Fe的能量為5.9Kev的MnK_α線，分辨率優(yōu)于149eV

13．多道分析器：2048道

14．軟件：基于WINDOWS的強(qiáng)大作軟件

15. 客戶可行二次開發(fā)，自行開發(fā)意多個(gè)分析方法

16．作電源：交 220V  50Hz