沖擊試樣缺口投影儀/沖擊試樣缺口投影機     型號：JG-CST-50

JG-CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型沖擊試樣缺口質量而、開發(fā)的種用光學儀器，與刻在投影屏上的沖擊試樣缺口標準樣板圖行對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口是否合格，對比直觀，操作簡單，效率。是理化試驗室的用設備。

參數(shù)：
     投影屏： 200×200mm             放大倍數(shù)： 50X
     光源： 12V 100W（鹵鎢燈）        電源： 220V 50Hz 150W
  外型尺寸： 515×224×603mm             重量： 約18Kg