描述:四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份(簡稱:主機(jī))、測試架及四探針頭組成。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-04-20訪問量
1936品牌 | 恒奧德 |
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四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/方阻儀/四探針電阻率測定儀 型號:KDK-KDY-1
四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份(簡稱:主機(jī))、測試架及四探針頭組成。
本儀器的點是主機(jī)配置雙數(shù)字表,在測量電阻率的同時,另塊數(shù)字表(以分之幾的度)適時監(jiān)測程的電變化,免除了測量電/測量電阻率的轉(zhuǎn)換,更及時掌控測量電。主機(jī)還提供度為0.05%的恒源,使測量電度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒源開關(guān),在測量某些箔層材料時,可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生,地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品:“小游移四探針頭”,探針游移率在0.1~0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器,測量硅片時可自動行厚度、直徑、探針間距的修正,并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習(xí)庋。給測量帶來很大方便。
2、主機(jī)能數(shù)
(1)測量范圍:
可測電阻率:0.0001~19000Ω•cm
可測方塊電阻:0.001~1900Ω•□
(2)恒源:
輸出電:DC 0.001~100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程:0.001~0.01mA
0.01~0.10mA
0.10~1.0mA
1.0~10mA
10~100mA
恒度:各檔均低于±0.05%
(3)直數(shù)字電壓表:
測量范圍:0~199.99mV
靈敏度:10μV
基本誤差:±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度)
輸出電源:≥1000ΩM
(4)供電電源:
AC 220V±10% 50/60 Hz 率:12W
(5)使用環(huán)境:
溫度:23±2℃ 相對濕度:≤65%
無較強(qiáng)的電場干擾,無強(qiáng)光直接照射
(6)重量、體積:
主機(jī)重量:7.5kg
體積:365×380×160(單位:mm 長度×寬度×度)
備注:
等測量時(測電阻率),度<3%
電氣測量時(測電阻),度在0.3%以內(nèi)
備注:
儀器包括:主機(jī)臺;測試架(包括臺面)個;四探針頭1個
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