1：熱電偶校驗(yàn)裝置/熱電偶校驗(yàn)儀型號(hào)：HAWJT-2A

HA/WJT-2A熱電偶校驗(yàn)裝置供校驗(yàn)作用熱電偶，適用于：鎳鉻－鎳硅（K）鎳鉻硅－鎳硅（N）鎳鉻－銅鎳（康銅）（E）等熱電偶的檢定和分度。
該裝置具有較的電測(cè)系統(tǒng)和控溫系統(tǒng)，檢定數(shù)據(jù)可靠，性能穩(wěn)定。
校驗(yàn)采用法：即利用二等標(biāo)準(zhǔn)鉑銠10－鉑熱電偶和被校熱電偶直接的方法行檢定和分度。
裝置系成套供應(yīng)包括二等標(biāo)準(zhǔn)鉑銠10－鉑熱電偶，操作臺(tái)、熱電偶管狀檢定爐。
操作臺(tái)由控溫系統(tǒng)和電測(cè)系統(tǒng)組成。
控溫系統(tǒng)包括：XMTF智能數(shù)字調(diào)節(jié)儀，控溫?zé)犭娕肌⒐虘B(tài)繼電器等。
電測(cè)系統(tǒng)包括：PZ150A型直數(shù)字電壓表，SY821轉(zhuǎn)換開關(guān)。
本裝置適合于省、市、縣法定計(jì)量機(jī)構(gòu)，礦企業(yè)，科研單位使用。
熱電偶校驗(yàn)裝置/熱電偶校驗(yàn)儀作條件：
環(huán)境溫度：10～30℃
相對(duì)濕度：≤85﹪
大氣壓力：86～106Kpa
周圍空氣中無(wú)腐蝕性氣體和嚴(yán)重塵埃除地磁場(chǎng)合，裝置周圍無(wú)其他外磁場(chǎng)存在裝置置于無(wú)振動(dòng)和　 沖擊的作場(chǎng)所
電壓電源　　220V±10﹪　　50HZ
外形尺寸和重量
操作臺(tái)（長(zhǎng)×寬×）　1200 mm×750 mm×1250mm
重　量：約160kg
檢定爐（長(zhǎng)×寬×）600 mm×260 mm×1130mm
重　量：50kg
1. 被檢熱電偶支數(shù)　　5支
2. 控溫范圍　　　　　300～1200℃
3. 控溫穩(wěn)定性　　　　不大于0.2℃/min
4. 具有溫報(bào)警　　　自動(dòng)切斷電源能
5. 電測(cè)系統(tǒng)
HA/PZ150A型直數(shù)字電壓表
測(cè)量范圍1mV～100.000mV
靈敏度1uV
基本誤差±（0.005﹪RD＋0.0015﹪FS）
SY821轉(zhuǎn)換開關(guān)
寄生電勢(shì)≤0.5uV
6. 控溫系統(tǒng)
XMTF－21數(shù)字顯示調(diào)節(jié)儀
分度號(hào)　S型　量程0～1600℃
控制方式　斷續(xù)PID
控溫?zé)犭娕肌°K銠10－鉑熱電偶　分度號(hào)S型
管狀檢定爐
作電壓　0～160V　50Hz
zui使用溫度1200℃
zui均勻溫場(chǎng)中心與爐子軸線方法偏離不大于10 mm。
爐室溫升溫時(shí)間從室溫升到1100℃不大60分鐘

2：手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀/手持式四探針測(cè)試儀/四探針電阻測(cè)試儀　型號(hào)：HADM-2

HADM-2型手持式數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)。
主機(jī)主要由數(shù)控恒源，分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。配用探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見 表2《四探針探頭型號(hào)規(guī)格征選型參照表》入
儀器具有測(cè)量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 9999Ω, 分辨率0.001 ～ 1 Ω
電 阻 率： 0.010～ 2000Ω-cm， 分辨率0.001 ～ 1 Ω-cm
方塊電阻： 0.050～ 2000Ω/□ 分辨率0.001 ～ 1 Ω/□
2. 材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定
直 徑：HAD/SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。
HAD/SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)()度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等

量程（Ω-cm/□）
9.999
99.99
999.9
9999.
電阻測(cè)試范圍
0.010～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～9999
電阻率/方阻
0.010/0.050～9.999
9.99～99.99
99.99～999.9
999.9～2000
基本誤差
±1%FSB±2LSB
±2%FSB±2LSB

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg

3：無(wú)油真空泵 真空泵 實(shí)驗(yàn)室小型真空泵 型號(hào)：HAD-R300

簡(jiǎn)介：
無(wú)油，保養(yǎng)；體積小，重量輕；兩年質(zhì)保，質(zhì)量過硬！
zui大真空度：-650mmHg=85.5kPa=110tor；zui大速：17L/min

產(chǎn)品點(diǎn)：
1.無(wú)油，活塞往復(fù)式運(yùn)作，保養(yǎng)。
2.構(gòu)，不到50分貝的低噪音值，給實(shí)驗(yàn)室操作人員提供安靜的環(huán)境。
3.質(zhì)量可靠，通過歐盟CE認(rèn)證及加拿大CSA認(rèn)證，兩年質(zhì)保承諾使你無(wú)后顧之憂。
4.可長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行作，zui多可達(dá)3000小時(shí)。
5.標(biāo)配真空調(diào)節(jié)閥，可控制真空度、速，同時(shí)調(diào)節(jié)閥內(nèi)配有濾芯，使用更方便、安。
6.R系列無(wú)油式真空泵只需搭配簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換套件，便可轉(zhuǎn)換成正壓泵（空壓機(jī)），機(jī)兩用，經(jīng)濟(jì)實(shí)用。

產(chǎn)品參數(shù)：
zui大真空度：-650mmHg=85.5kPa=110tor
zui大速：17 l/min
噪音：50.0dB
率：60W
馬達(dá)轉(zhuǎn)速：1450RPM
風(fēng)管接口：5/16"
尺寸：W275 x H165 x D150 (mm)
凈重：4.1kg

4：便攜式廢液抽取系統(tǒng)/液體吸引泵/生物廢液抽取系統(tǒng) 型號(hào)：BIOVAC235

說明：

·廢液瓶?jī)?nèi)浮和管子之間濾器的雙重廢液逆保護(hù)裝置，防止廢液抽入泵內(nèi)

·低的噪音和振動(dòng)，噪音值甚至不到50分貝，非常適合在生物安柜內(nèi)使用

·廢液瓶、濾器、管子均可溫壓滅菌

·外殼材質(zhì)為ABS，重量輕且易清潔

·內(nèi)真空泵保修期為2年，有效的質(zhì)量保證

應(yīng)用：

各種培養(yǎng)皿廢液的提取、細(xì)胞培養(yǎng)廢液抽取等

型號(hào)：biovac225 biovac235 biovac240 （bv225 bv235 bv240）

5：微波光電導(dǎo)載子復(fù)合壽命測(cè)試儀/少子壽命測(cè)試儀　型號(hào)：HAD-100A

HAD-100A型微波光電導(dǎo)載子復(fù)合壽命測(cè)試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料際組織SEMI標(biāo)準(zhǔn)MF1535-0707及家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 26068-2010制。并且我單位是微波反射法家標(biāo)準(zhǔn)起草單位之。本設(shè)備采用微波反射無(wú)接觸光電導(dǎo)衰退測(cè)量方法，適用于厚度為1mm以下的硅片、電池片少數(shù)載子壽命的測(cè)量，提供無(wú)接觸、無(wú)損傷、數(shù)字顯示的快速測(cè)量。壽命測(cè)量可靈敏地反映半導(dǎo)體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導(dǎo)體質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。

壽命測(cè)量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。

讀數(shù)方式：數(shù)字直讀。

溫馨提示：以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對(duì)應(yīng)的