型號(hào)：TP-TPY-1

橢圓偏振測(cè)厚儀偏振測(cè)厚儀測(cè)厚儀

描述：在近代的許多域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此，更加和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù)，如：布儒斯角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率，干涉法測(cè)膜厚，其它測(cè)膜厚的方法還有稱(chēng)重法、X射線(xiàn)法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，因而，橢圓偏振法測(cè)量已在光學(xué)、半導(dǎo)體、生物、學(xué)等諸多域得到廣泛應(yīng)用。

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2024-04-13
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橢圓偏振測(cè)厚儀偏振測(cè)厚儀測(cè)厚儀型號(hào)：TP-TPY-1

在近代的許多域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此，更加和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù)，如：布儒斯角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率，干涉法測(cè)膜厚，其它測(cè)膜厚的方法還有稱(chēng)重法、X射線(xiàn)法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，因而，橢圓偏振法測(cè)量已在光學(xué)、半導(dǎo)體、生物、學(xué)等諸多域得到廣泛應(yīng)用。

產(chǎn)品點(diǎn)：

儀器采用消光法自動(dòng)測(cè)量薄膜厚度和折射率，具有度、靈敏度以及方便測(cè)量等點(diǎn)；

光源采用氦氖激光器，率穩(wěn)定、波長(zhǎng)度；

儀器配有生成表、查表以及計(jì)算等軟件，方便用戶(hù)使用。

規(guī)格與主要標(biāo)：

測(cè)量范圍：薄膜厚度范圍：1nm-300nm；折射率范圍：1-10

測(cè)量zui小示值：≤1nm 入射光波長(zhǎng)：632.8nm

光學(xué)中心：80mm 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm

偏振器方位角范圍：0°- 180°讀取分辨率為0.05°

測(cè)量膜厚和折射率重復(fù)性度分別為：±1nm和±0.01

主機(jī)重量：25kg 入射角連續(xù)調(diào)節(jié)范圍：20°- 90°度為0.05°

成套性：主機(jī)、電控系統(tǒng)、計(jì)算軟件

外形尺寸：680*390*320mm

：www.51658042.com

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