描述:本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,的測試。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡單、度、靈敏性好、非接觸、暗房操作,實(shí)時(shí)顯示場信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測量、無損測量、震動測量等。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-04-13訪問量
1787品牌 | 恒奧德 |
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電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝 干涉實(shí)驗(yàn)裝置 型號:TP-WSG-1