描述:KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)兩探針儀)是按照我家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)(ASTM)的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針?lè)?。
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兩探針電阻率測(cè)試儀/二探針電阻率測(cè)試儀/兩探針儀 型號(hào):KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型兩探針電阻率測(cè)試儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)兩探針儀)是按照我家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)(ASTM)的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法“兩探針?lè)?rdquo;。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型,方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率,測(cè)樣長(zhǎng)度與截面zui大尺寸之比應(yīng)不小于3:1。由于兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量電是從長(zhǎng)棒兩端出,遠(yuǎn)離電壓測(cè)量探針,因此電過(guò)金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)(如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng)、少子注入效應(yīng)等),對(duì)測(cè)量的影響較小,測(cè)量結(jié)果為橫截面的平均電阻率,兩探針?lè)ǖ臏y(cè)量度般優(yōu)于四探針?lè)ā?/p>
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