描述:GSZ-RTS-4型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時(shí)間
2024-04-16訪問量
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品牌 | 恒奧德 |
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測量范圍 | 電阻率:0.001~200Ω.cm(可擴(kuò)展); 方塊電阻:0.01~2000Ω/□(可擴(kuò)展); 電導(dǎo)率:0.005~1000 s/cm; 電阻:0.001~200Ω.cm; |
可測晶片直徑 | 140mmX150mm(配S-2A型測試臺(tái)); 200mmX200mm(配S-2B型測試臺(tái)); 400mmX500mm(配S-2C型測試臺(tái)); |
恒源 | 電量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔,各檔電連續(xù)可調(diào) |
數(shù)字電壓表 | 量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; 輸入阻抗:>1000MΩ; 度:±0.1% ; 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動(dòng)顯示; |
四探針探頭基本標(biāo) | 間距:1±0.01mm; 針間緣電阻:≥1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力); |
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對(duì)誤差 ( 按JJG508-87行) | 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
整機(jī)測量zui大相對(duì)誤差 | (用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 | ≤5% |
計(jì)算機(jī)通訊接口 | 并口 |
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 | 溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%; 無頻干擾; 無強(qiáng)光直射; |