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描述：手持式四探針測定儀 型號:HAD-3 運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.DP 標準。
廠商性質
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-04-17訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥 | 凈 重 | 0.3kg |
手持式四探針測定儀 方塊電阻測定儀 電阻率測定儀 型號:HAD-3
概述
手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.DP 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設定、能轉換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配專用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
三、手持式四探針測定儀基本術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cDP， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cDP
方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直 徑：圓測試臺直接測試方式 Φ15～130DPDP。
方測試臺直接測試方式180DPDP×180DPDP。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100DPDP。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
量程劃分及誤差等級
量程（Ω-cm/□） | 2.000 | 20.00 | 200.0 | 2.000k | 20.00k |
電阻測試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
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