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該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的用儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、二探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。

方型四探針探頭是種門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的方型四探針測(cè)試探頭，用于測(cè)量小樣品的四探針探頭，可用于般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測(cè)試儀是手持式方塊電阻測(cè)試儀,門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測(cè)試儀是四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新代產(chǎn)品,門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等物質(zhì)的薄層電阻。

儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

方塊電阻測(cè)試儀是種依照類(lèi)似的家標(biāo)準(zhǔn)和美A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測(cè)量般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等物質(zhì)的薄層電阻。